SJT 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分 测试方法
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ID： |
944405218C614780BFED1CA9759FAA6D |
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文件大小(MB)： |
1.16 |
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页数： |
58 |
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文件格式： |
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日期： |
2009-6-12 |
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购买： |
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ICS 35.240.15,L 64 SJ,中华人民共和国电子行业标准,SJ /T 11 22 2 - 20 0 0,集成电路卡通用规范,第3音仔分:测试方法,General specification for Integrated circuit cards,Pa r t 3 : T es t m e th o ds,2000-05-30发布2000-10-01实施,中华人民共和国信息产业部批准,目次,前言,1 范围。.. 1,2 引用标准-.. 1,3 定义。.. 2,4 测试方法的默认条款。..，’。.. 3,5 IC卡一般特性的测试方法，，..”’’‘’”‘”’“”’4,5.1 卡翘曲，。。.. 4,5.2 卡的尺寸。.. 5,5.3 剥离强度.. 6,5.4 耐化学性.. 9,5.5 在温度和湿度条件下尺寸的稳定性和翘曲. . 10,5.6 粘连和并块，.. 10,5.7 弯曲韧性。.. 11,5.8 动态弯曲应力(弯曲特能) 。。.. 12,5， 动态扭曲应力(扭曲) .. 14,5.10 可燃性。， 15,5.11 阻光度..”.. 16,5.12 紫外线.. 17,5.13 X射线。，.. 17,5.14 电磁场。.. ，’。.. 18,5.15 凸印字符的凸起高度。。.. 18,6 带触点的IC卡物理和电特性的测试方法。.. 18,6.1 触点位置。.. 18,6.2 静电。。.. 19,6.3 触点的电阻和阻抗。.. 23,6.4 触点表面轮廓.. 24,6.5 触点高度.. 26,6.6 机械强度— 3轮测试。，.. 27,6.7 点压力测试.. 28,6.8 点畸变测试，。.. 29,6.9 微模块附着力的拉力测试.. 30,6.10 1/O触点，，.. 30,6.11 UO触点的下降时间和上升时间，。.. 31,6.12 VPP触点。.. 31,6.13 CLK电流。。.. 32,6.14 RST电流..。. . 33,6.1 5 VCC电流.. 33,7 接口设备(IFD)物理和电特性的测试方法。。.. 33,7.1 IFD触点位置.. 33,7.2 插沁拔出的力。.. 34,7.3 对ICC触点的推力。.. 35,7.4 物理损伤.. 36,7.5 输出端的寄生电压.. 37,7.6 触点的激活..‘.. 37,7.7 VCC电压.. 38,7.8 VPP触点，.. 38,7.9 UO触点.. 38,7.10 CLK触点.. 39,7.11 RST电压。.. 39,7.12 复位卡，。。.. 39,7.13 触点的停活.. 39,7.14 卡移去的检测.. 40,8 带触点IC卡逻辑操作的测试方法一40,8.1复位应答(ATR)时序.. 40,8.2 字符重复。.. 40,8.3 奇偶校验差错检测。.. 41,8.4 ATR的结构和内容，一41,8.5 全局字符一42,8.6 接口字符(TA;, TB;, TC;, TD;) ..’二42,8.7字符等待时间(CWT).. ’二42,8.8块保护时间(BGT)。，.‘，.‘’43,8.9 卡的块排序.. 43,8.10 ICC对协议差错的反应，.. 44,8.11 由ICC恢复的传输差错..’45,8.12 重新同步。.. 45,8.13 IFSD协商.. 46,8.14 由IFD放弃。.. 46,9 接口设备(Q FD)逻辑操作的测试方法。。。.. 47,9.1 字符重复.. 47,9.2 字符帧.. 47,9.3 T=0协议的命令报头结构.. 47,9.4 用于T=。的VPP请求.. 48,9.5字符等待时间(CWT)..‘. ‘’‘’’”’48,9.6块保护时间(BGT)..‘..’49,9.7 IFD的块排序。。.. 49,9.8 IFD对无效PCB的反应。..‘二51,9.9 由IFD对传输差错的恢复，..‘..”‘’51,51 52 52,9.10,9.11,9.12,IFSC协商..”’,ICC的放弃..’’‘’“’”‘””‘’‘,S (RESYHNCH resquest)块中差错的恢复,前言,本 标 准 是以ISO/IEC 10373-1: 1996和ISO/IEC 10373-3: 1998为基础制定的。并在,此基础上，增加了接受条件,本标 准 由 中国电子技术标准化研究所归口,本 标 准 起草单位:中国电子技术标准化研究所,本 标 准 主要起草人:蔡怀忠、冯敬、黄家英、李韵琴、陈云峰、金倩,中华人民共和国电子行业标准,集成电路卡通用规范,第 3 部 分:测试方法,Ge nerals pecification fori ntegratedc ards,SJ/T 11222- 2000,Part 3:Test methods,1 范围,本规 范 规 定了与ISO/IEC 7810给出的定义相适应的识别卡特性用的测试方法。每一,测试方法交叉引用一个或多个基础标准，该基本标准可以是ISO/IEC7810或一个或多个,定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准,注 : 本 规范中描述的若干测试方法预期可单独进行.规定的卡不要求通过所有测试.,本规 范 定 义了为一种或多种卡技术通用的测试方法,2 引用标准,下 列 标 准所包含的条文，通过在本标准中的引用而构成为本标准的条文。本标准出,版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标,准最新版本的可能性,GB /T 13 1-93 机械制图表面粗糙度符号、代号及其注法(idtISO一 1302:`1992)……
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